1912-1913年,英国人布拉格父子在大量晶体结构分析的基础上,解释说衍射的现象可以看作是某些晶面“镜面反射”的结果。只有当这些晶面与X 射线的入射方向所成的角度θ、这组晶面的晶面间距d和X 射线的入射方向的波长λ满足2dsinθnλ条件时,才能产生反射。其中n为任意正整数,称为衍射 series。这个等式被称为布拉格定律(图1)。

4、晶体X 射线 衍射的发现历程

德国物理学家M.von Laue在1912年发现了上述现象。他设想,如果能找到波长为108 cm的电磁波,让它穿过晶体,就会出现衍射的现象,这种现象可以提供晶体中原子排列的信息。当时为了验证X 射线是电磁波,有人用普通光栅做衍射实验,反复失败。由此劳厄认为X 射线是一种波长比可见光短得多的电磁波,可能适用于水晶衍射。通过实验,劳厄和他的助手们证实了他们的想法,因此他获得了1914年的诺贝尔物理学奖。

5、X 衍射 分析基础

11.3.1.1制样粉X 射线 衍射制样会直接影响衍射效果。因此,合格样品的制备是粉晶X-1衍射instrument分析technology中的重要环节。X射线衍射分析的样品主要包括粉末样品、块状样品、薄膜样品和纤维样品。不同的样品和不同的目的(定性分析或定量分析)导致样品制备方法不同,如图11.4所示。图11.4普通样品的制备方法粉末样品;b块样本;c微量样品;d膜样品(1)粉末样品粉末样品要有一定的粒度要求,所以一般在样品研磨后使用,可以在玛瑙研钵中研磨。

确定10μm粒径的简便方法是用拇指和中指捏取少量粉末并扭转,使两指间无颗粒感的粒径为10 μ m左右,根据粉末量的多少,可压入玻璃框或浅框中。压制时一般不加粘结剂,限制压力使粉末样品粘牢。过大的压力可能导致颗粒之间的优先取向。粉量少时,可在玻璃片上涂一层凡士林,然后均匀撒粉。

6、X 射线 衍射 分析原理与应用的目录

第一章概述1.1材料分析表征方法简述1.2x-1衍射-2/技术发展及现状1.3x/。2.1x-1的产生和性质/2.2x-1的产生/2.3x射线谱2.4x射线与物质的相互作用第三章x射线。-1/ 衍射原理3.3x-1衍射方程第四章x-1衍射方法4.1粉末晶体衍射仪法。-1/ 衍射数据5.1衍射方向5.2衍射强度5.3衍射数据的确定和表示5.4- 6.1概念和原则6.2标准衍射数据介绍6.3阶段-0/系统消光概念及应用8.1衍射系统光定律8.2消光定律应用第9章X-1衍射-2/方法应用9.1x。9.3粉末晶体结构的新方法分析 9.4晶粒尺寸和晶格应变的测定第10章X-1衍射Structure分析riet veld法10.1 riet veld法的基本原理10.2

7、X 射线 衍射 分析有什么特点呢

物理特征1。渗透。X 射线由于其波长短、能量大,照射到物质上时,只有一部分被物质吸收,大部分通过原子间隙,表现出很强的穿透能力。X 射线穿透物质的能力与X 射线光子的能量有关。X 射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X 射线的穿透力还与物质的密度有关,不同密度的物质可以通过差分吸收来区分。2.电离。当物质被X 射线照射时,原子核外的电子可以脱离原子轨道而电离。

在电离作用下,气体可以导电;有些物质可以发生化学反应;在生物体中可以诱发各种生物效应。3.荧光。X 射线的波长太短,看不到,但当它照射到一些化合物如磷、铂氰钡、硫化镉锌、钨酸钙等时。,它能使物质发出荧光(可见光或紫外光),荧光的强度与X 射线的量成正比。该功能是X 射线在荧光透视中应用的基础。利用这种荧光功能,可以将X-1制成荧光屏,用于透视时观察X-1通过人体组织的影像,也可以制成增感屏,用于摄影时增强胶片的感光度。

8、x 射线 衍射 分析

不同元素的原子的光谱是不一样的(x 射线 衍射原子被激发时辐射出不同频率的光子,即光谱)。X 射线激发原子内层电子,内层电子被激发跃迁到高能态,然后被去激发,发出不同频率的特征X射线,记住:一定是内层电子,外层电子激发的X射线不具备分辨核素的能力。所以初始激励X 射线能量一定要大(频率越短),有些核素X 射线的特性不在可见光区,需要一些仪器辅助观测。

 2/2   首页 上一页 1 2 下一页

文章TAG:衍射  射线  分析  发展  x射线衍射分析发展状况  
下一篇